專利侵害鑑定理論簡介

上一篇 / 下一篇  2014-07-14 15:47:45

專利侵害鑑定主要目的在於判斷被控產品或方法(下稱待鑑定對象)是否落入系爭專利之權利範圍,是專利侵權訴訟中核心的重點項目。專利訴訟時,兩造通常會分別提出專利侵害鑑定報告做為侵權與否之主張及抗辯,因此,不管是要確實達到保護自己專利權之目的或做為專利訴訟之防禦,都有瞭解專利侵害鑑定理論之必要。此外,企業在做研發時,不管是透過專利侵害鑑定的原則對於具專利權之其他技術做迴避設計,或做為本身為研發方向的規劃,瞭解專利侵害鑑定之原理亦能提供相當的助益。我國智慧財產局於92年期間對於原85年1月公告之「專利侵害鑑定基準」進行修訂,而於93年10月4日公告「專利侵害鑑定要點」(草案),並於93年10月5日公告原「專利侵害鑑定基準」自該日起停止適用,且於同日將「專利侵害鑑定要點」(草案)函請司法院參考。  

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